Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE - Pokroková technologie pro lidstvo
Stránka 285
IEEE 1668-2014 (22.09.2014) Neplatné
IEEE Trial-Use Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 134.10 EUR viac informácií
IEEE 167-1966 (29.06.1966) Neplatné
IEEE Test Procedure for Facsimile
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 77.20 EUR viac informácií
IEEE 1671-2006 (15.12.2006) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 104.30 EUR viac informácií
IEEE 1671-2010 (20.01.2011) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 419.90 EUR viac informácií
IEEE 1671.1-2009 (11.12.2009) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 170.10 EUR viac informácií
IEEE 1671.2-2008 (17.12.2008) Neplatné
IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Instrument Descriptions
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 121.00 EUR viac informácií
IEEE 1671.2-2012 (15.02.2013) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF
od 104.30 EUR viac informácií
IEEE 1671.3-2007 (28.03.2008) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML (eXtensible Markup Language): Exchanging UUT (Unit Under Test) Description Information
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 91.20 EUR viac informácií
IEEE 1671.4-2007 (30.04.2008) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 104.30 EUR viac informácií
IEEE 1671.5-2008 (01.02.2012) Neplatné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 66.60 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
