Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE - Pokroková technologie pro lidstvo
Strana 285
IEEE 1668-2014 (22.09.2014) Neplatná
IEEE Trial-Use Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 3 254.20 CZK více informací
IEEE 167-1966 (29.06.1966) Neplatná
IEEE Test Procedure for Facsimile
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 1 871.70 CZK více informací
IEEE 1671-2006 (15.12.2006) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 2 531.00 CZK více informací
IEEE 1671-2010 (20.01.2011) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 10 187.90 CZK více informací
IEEE 1671.1-2009 (11.12.2009) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 4 126.20 CZK více informací
IEEE 1671.2-2008 (17.12.2008) Neplatná
IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Instrument Descriptions
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 2 935.10 CZK více informací
IEEE 1671.2-2012 (15.02.2013) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF
od 2 531.00 CZK více informací
IEEE 1671.3-2007 (28.03.2008) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML (eXtensible Markup Language): Exchanging UUT (Unit Under Test) Description Information
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 2 212.00 CZK více informací
IEEE 1671.4-2007 (30.04.2008) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 2 531.00 CZK více informací
IEEE 1671.5-2008 (01.02.2012) Neplatná
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 1 616.40 CZK více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
