JIS - Japanische technische Standards

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JIS K0159:2021 (22.11.2021)

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 5 100.00 EUR weitere informationen

Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

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ab 7 200.00 EUR weitere informationen

JIS K0161:2010 (20.04.2010)

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

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ab 2 600.00 EUR weitere informationen

JIS K0162:2010 (20.04.2010)

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

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ab 2 600.00 EUR weitere informationen

JIS K0163:2010 (20.04.2010)

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

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ab 1 800.00 EUR weitere informationen

JIS K0164:2023 (20.02.2023)

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon

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ab 2 600.00 EUR weitere informationen

JIS K0165:2011 (20.05.2011)

Surface chemical analysis -- Medium-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental analysis

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ab 3 000.00 EUR weitere informationen

JIS K0166:2011 (20.05.2011)

Surface chemical analysis -- High-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis

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ab 4 100.00 EUR weitere informationen

JIS K0167:2011 (22.03.2011)

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

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ab 3 600.00 EUR weitere informationen