Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 660
JIS K0159:2021 (22.11.2021)
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 124 108.50 CZK viac informácií
JIS K0160:2026 (20.01.2026)
Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 175 212.00 CZK viac informácií
JIS K0161:2010 (20.04.2010)
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 63 271.00 CZK viac informácií
JIS K0162:2010 (20.04.2010)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 63 271.00 CZK viac informácií
JIS K0163:2010 (20.04.2010)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 43 803.00 CZK viac informácií
JIS K0164:2023 (20.02.2023)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 63 271.00 CZK viac informácií
JIS K0165:2011 (20.05.2011)
Surface chemical analysis -- Medium-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental analysis
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 73 005.00 CZK viac informácií
JIS K0166:2011 (20.05.2011)
Surface chemical analysis -- High-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 99 773.50 CZK viac informácií
JIS K0167:2011 (22.03.2011)
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 87 606.00 CZK viac informácií
JIS K0168:2011 (22.03.2011)
Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 63 271.00 CZK viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
