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JIS - Japanische technische Standards
Seite 659
JIS K0149-1:2019 (20.11.2019)
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 2 915.40 USD weitere informationen
JIS K0150:2020 (20.07.2020)
Surface chemical analysis -- Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 4 821.70 USD weitere informationen
JIS K0151:1983 (31.01.1984)
Non-dispersive infrared gas analyzer
Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 5 943.00 USD weitere informationen
JIS K0152:2014 (22.07.2014)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 2 915.40 USD weitere informationen
JIS K0153:2015 (20.10.2015)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 2 915.40 USD weitere informationen
JIS K0154:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 364.00 USD weitere informationen
JIS K0155:2025 (20.05.2025)
Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 8 073.50 USD weitere informationen
JIS K0156:2018 (20.08.2018)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 364.00 USD weitere informationen
JIS K0157:2021 (20.07.2021)
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 364.00 USD weitere informationen
JIS K0158:2021 (20.07.2021)
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 364.00 USD weitere informationen
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