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STN - Slowakische nationale Normen
Seite 3001
STN EN 60749-33 (01.10.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
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STN EN 60749-34 (01.04.2011)
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 34: Periodické výkonové zaťaženie (Norma na priame používanie ako STN).
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STN EN IEC 60749-34-1 (01.11.2025)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module
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STN EN 60749-35 (01.06.2007)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
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STN EN 60749-36 (01.11.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
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STN EN IEC 60749-37 (01.02.2023)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
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STN EN 60749-38 (01.01.2009)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
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STN EN IEC 60749-39 (01.04.2022)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
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STN EN 60749-40 (01.12.2011)
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 40: Skúšobná metóda pádom osadenej dosky s použitím tenzometra (Norma na priame používanie ako STN).
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STN EN IEC 60749-41 (01.12.2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
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