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STN - Slowakische nationale Normen
Seite 3000
STN EN IEC 60749-26 (01.02.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN IEC 60749-26 (01.05.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 60749-27 (01.05.2007)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 60749-27:2007/A1 (01.04.2013) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN IEC 60749-28 (01.07.2022)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
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Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 60749-29 (01.12.2011)
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 29: Skúška latch-up (Norma na priame používanie ako STN).
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN IEC 60749-30 (01.01.2021)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
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Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 60749-31 (01.01.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
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STN EN 60749-32 (01.01.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 60749-32:2004/A1 (01.12.2010) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
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