Ungültige | Herausgegeben: 10.09.1997

ASTM E1127-91(1997) Ungültige

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

ab 68.60 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1127-91(1997)

Ausgabedatum: 10.09.1997

Seiten: 4

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog