Neplatné | Vydaná: 10.09.1997

ASTM E1127-91(1997) Neplatné

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 68.60 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E1127-91(1997)

Dátum vydania: 10.09.1997

Stránok: 4

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populárna vydavatelia

celý katalóg