Neplatná | Vydána: 10.09.1997

ASTM E1127-91(1997) Neplatná

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.00 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1127-91(1997)

Datum vydání: 10.09.1997

Stran: 4

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populární vydavatelé

celý katalog