Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt
Bezeichnung: ASTM E2382-04(2020)
Ausgabedatum: 01.12.2020
Seiten: 20
Land: Amerikanische technische Norm