Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.12.2020
ASTM E2382-04(2020)
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Tištěné
od 1 693.70 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E2382-04(2020)
Datum vydání: 01.12.2020
Stran: 20
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction,, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
