Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 01.12.2020
ASTM E2382-04(2020)
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Tlačené
od 70.10 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM E2382-04(2020)
Dátum vydania: 01.12.2020
Stránok: 20
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction,, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
