Ungültige | Herausgegeben: 10.06.1996

ASTM F1259M-96(2003) Ungültige

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1259M-96(2003)

Ausgabedatum: 10.06.1996

Seiten: 2

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open-circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure

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