Neplatné | Vydaná: 10.06.1996

ASTM F1259M-96(2003) Neplatné

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 1 701.80 CZK zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1259M-96(2003)

Dátum vydania: 10.06.1996

Stránok: 2

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open-circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure

Populárna vydavatelia

celý katalóg