Neplatná | Vydána: 10.06.1996

ASTM F1259M-96(2003) Neplatná

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 701.80 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM F1259M-96(2003)

Datum vydání: 10.06.1996

Stran: 2

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open-circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure

Populární vydavatelé

celý katalog