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Ungültige | Herausgegeben: 10.06.1996
ASTM F1260M-96(2003) Ungültige
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F1260M-96(2003)
Ausgabedatum: 10.06.1996
Seiten: 8
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure
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