Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 10.06.1996
ASTM F1260M-96(2003) Neplatné
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 1 900.70 CZK
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM F1260M-96(2003)
Dátum vydania: 10.06.1996
Stránok: 8
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
