Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 10.06.1996
ASTM F1260M-96(2003) Neplatná
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
od 1 900.70 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM F1260M-96(2003)
Datum vydání: 10.06.1996
Stran: 8
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
