ASTM F1262M-95(2008) Ungültige

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1262M-95(2008)

Ausgabedatum: 15.06.2008

Seiten: 5

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, Combinational logic, Destructive testing--semiconductors, Digital integrated circuits, Electrical conductors (semiconductors), Failure end point--electronic components/devices, 0Functional errors, Integrated circuits, Ionizing radiation, Irradiance/irradiation--semiconductors, 0Microelectronic devices, MSI integrated circuits, Output transient voltage