Ungültige | Herausgegeben: 01.01.1992

ASTM F1393-92(1997) Ungültige

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1393-92(1997)

Ausgabedatum: 01.01.1992

Seiten: 7

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
Density-electronic applications, Depth profiling, Diodes, Electrical conductors-semiconductors, Mercury probe, Miller feedback profiler, Net carrier density (in semiconductors), Polished silicon wafers/slices, Probe methods, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, Schottky barrier diode, Silicon-semiconductor applications, Single-crystal silicon, Voltage, net carrier density profiles in epitaxial/polished bulk silicon wafers,

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