Neplatné | Vydaná: 01.01.1992

ASTM F1393-92(1997) Neplatné

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1393-92(1997)

Dátum vydania: 01.01.1992

Stránok: 7

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
Density-electronic applications, Depth profiling, Diodes, Electrical conductors-semiconductors, Mercury probe, Miller feedback profiler, Net carrier density (in semiconductors), Polished silicon wafers/slices, Probe methods, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, Schottky barrier diode, Silicon-semiconductor applications, Single-crystal silicon, Voltage, net carrier density profiles in epitaxial/polished bulk silicon wafers,

Populárna vydavatelia

celý katalóg