Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.06.2026

ASTM F1892-26

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Norm und Redline – Sicheres Online-PDF, Gedruckt, Gedruckt + redline

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1892-26

Ausgabedatum: 01.06.2026

Seiten: 42

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

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