Aktivní norma | Vydána: 01.06.2026

ASTM F1892-26

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF, Tištěné, Tisk + redline

od 113.00 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM F1892-26

Datum vydání: 01.06.2026

Stran: 42

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Populární vydavatelé

celý katalog