Aktívna norma | Vydaná: 01.06.2026

ASTM F1892-26

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF, Tlačené, Tlač + redline

od 99.30 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1892-26

Dátum vydania: 01.06.2026

Stránok: 42

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Populárna vydavatelia

celý katalóg