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Aktiv Normen | Herausgegeben: 03.08.2022
BS ISO 23170:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 7 428.90 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS ISO 23170:2022
Ausgabedatum: 03.08.2022
Seiten: 38
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 539 14473 4 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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