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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.09.2024
DIN EN IEC 60749-5:2024-09
VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
ab 52.60 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: DIN EN IEC 60749-5:2024-09
Ausgabedatum: 01.09.2024
Seiten: 13
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.Populäre Herausgeber
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