Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)
Dostupné jazyky: Nemecky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: DIN EN IEC 60749-5:2024-09
Dátum vydania: 01.09.2024
Stránok: 13
Krajina: Nemecká technická norma