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Active standard | Published: 01/09/2024
DIN EN IEC 60749-5:2024-09
VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)
Available languages: German
Available design: Print design
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Detail information
Designation: DIN EN IEC 60749-5:2024-09
Publication date: 01/09/2024
Pages: 13
Country: German technical standard
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VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.Popular Publishers
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