Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
Označení: DIN EN IEC 60749-5:2024-09
Datum vydání: 01.09.2024
Stran: 13
Země: Německá technická norma