DIN EN IEC 63364-1:2025-01 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.01.2025

DIN EN IEC 63364-1:2025-01

Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection.
(Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.)

Verfügbare Sprachen: Deutsch

Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt

ab 2 054.40 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: DIN EN IEC 63364-1:2025-01

Ausgabedatum: 01.01.2025

Seiten: 14

Land: Deutsche technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.