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Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection.
(Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: DIN EN IEC 63364-1:2025-01
Ausgabedatum: 01.01.2025
Seiten: 14
Land: Deutsche technische Norm