Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection.
(Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.)
Dostupné jazyky: Nemecky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: DIN EN IEC 63364-1:2025-01
Dátum vydania: 01.01.2025
Stránok: 14
Krajina: Nemecká technická norma