Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/01/2025
DIN EN IEC 63364-1:2025-01
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection.
(Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
from 84.60 EUR
show on eshop
Detail information
Designation: DIN EN IEC 63364-1:2025-01
Publication date: 01/01/2025
Pages: 14
Country: German technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
