Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection.
(Polovodičové součástky - Polovodičové součástky pro systém IoT - Část 1: Zkušební metoda detekce změny zvukového pole..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: DIN EN IEC 63364-1:2025-01
Datum vydání: 01.01.2025
Stran: 14
Země: Německá technická norma