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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.07.2026
E DIN EN IEC 63616:2026-07
VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
(VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
ab 567.60 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Ausgabedatum: 01.07.2026
Seiten: 13
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.Populäre Herausgeber
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