Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
(VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)
Dostupné jazyky: Nemecky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Dátum vydania: 01.07.2026
Stránok: 13
Krajina: Nemecká technická norma