Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.07.2026
E DIN EN IEC 63616:2026-07
VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
od 567.60 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Datum vydání: 01.07.2026
Stran: 13
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
