Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/07/2026
E DIN EN IEC 63616:2026-07
VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
(VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)
Available languages: German
Available design: Print design
from 26.90 USD
show on eshop
Detail information
Designation: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Publication date: 01/07/2026
Pages: 13
Country: German technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
