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Semiconductor devices; measuring methods for GaAs field-effect transistors used in microwave applications; identical with IEC 47(Central office)1261.
(Halbleiterbauelemente - Messverfahren für GaAs Feldeffektransistoren für Mikrowellenanwendungen.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: E DIN IEC 47(CO)1261:1992-08
Ausgabedatum: 01.08.1992
Seiten: 19
Anmerkung: Ungültige
Land: Deutsche technische Norm