Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices; measuring methods for GaAs field-effect transistors used in microwave applications; identical with IEC 47(Central office)1261.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: E DIN IEC 47(CO)1261:1992-08
Datum vydání: 01.08.1992
Stran: 19
Poznámka: Neplatná
Země: Německá technická norma