Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices; measuring methods for GaAs field-effect transistors used in microwave applications; identical with IEC 47(Central office)1261.
(Halbleiterbauelemente - Messverfahren für GaAs Feldeffektransistoren für Mikrowellenanwendungen.)
Available languages: German
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: E DIN IEC 47(CO)1261:1992-08
Publication date: 01/08/1992
Pages: 19
Note: Withdrawn
Country: German technical standard