Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices; measuring methods for GaAs field-effect transistors used in microwave applications; identical with IEC 47(Central office)1261.
(Halbleiterbauelemente - Messverfahren für GaAs Feldeffektransistoren für Mikrowellenanwendungen.)
Dostupné jazyky: Nemecky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: E DIN IEC 47(CO)1261:1992-08
Dátum vydania: 01.08.1992
Stránok: 19
Poznámka: Neplatné
Krajina: Nemecká technická norma