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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.03.2025
GOST R 71334-2024
Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
Verfügbare Sprachen: Russisch, Englisch und Russisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 46.60 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: GOST R 71334-2024
Ausgabedatum: 01.03.2025
Seiten: 8
Land: Russische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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