Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 01.03.2025
GOST R 71334-2024
Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
Dostupné jazyky: Rusky, Anglicky a rusky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 46.60 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: GOST R 71334-2024
Dátum vydania: 01.03.2025
Stránok: 8
Krajina: Ruská technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
