Aktiv Normen | Herausgegeben: 19.05.2010

IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai d´electromigration en courant constant)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 62415-ed.1.0

Ausgabedatum: 19.05.2010

Seiten: 22

Land: Internationale technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.

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