Aktivní norma | Vydána: 19.05.2010

IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai d´electromigration en courant constant)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 1 259.20 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 62415-ed.1.0

Datum vydání: 19.05.2010

Stran: 22

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.

Populární vydavatelé

celý katalog