Aktívna norma | Vydaná: 19.05.2010

IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai d´electromigration en courant constant)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 59.50 USD zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC 62415-ed.1.0

Dátum vydania: 19.05.2010

Stránok: 22

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.

Populárna vydavatelia

celý katalóg