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Aktiv Normen | Herausgegeben: 09.07.2010
ISO 14237:2010-ed.2.0
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Dosage des atomes de bore dans le silicium a l´aide de matériaux dopés uniformément)
Verfügbare Sprachen: Englisch, Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 176.20 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 14237:2010-ed.2.0
Ausgabedatum: 09.07.2010
Seiten: 19
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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