Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 09.07.2010
ISO 14237:2010-ed.2.0
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Dosage des atomes de bore dans le silicium a l´aide de matériaux dopés uniformément)
Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 201.80 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ISO 14237:2010-ed.2.0
Datum vydání: 09.07.2010
Stran: 19
Země: Mezinárodní technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
