Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 09.07.2010
ISO 14237:2010-ed.2.0
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Dosage des atomes de bore dans le silicium a l´aide de matériaux dopés uniformément)
Dostupné jazyky: Anglicky, Francúzsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 176.20 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ISO 14237:2010-ed.2.0
Dátum vydania: 09.07.2010
Stránok: 19
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
